Panthera TEC 型号为半导体和其他材料的检测和分析提供了很高的价值，特别是在质量控制和技术教育方面。明场、暗场和简易的偏光对比度与新的分段照明相结合。这一概念允许倾斜入射照明，非常适合检测平面和反射表面上的划痕或其他缺陷，而无需移动样品。

　　适用于工业应用的强大功能